能量色散X熒光光譜儀檢測

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。以下簡介X射線熒光光譜儀（臺式和手持式）。

臺式：

應用領域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業、貴金屬加工和首飾加工行業；銀
行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業

性能優勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05%·穩定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環境狀態下相等
性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護

技術參數

元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：144±5eV

儀器配置
移動樣品平臺
SDD探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

手持式：

儀器*性能

1.         超高的檢測精度精確度高。

2.         超高的穩定性，超高的重復性。

3.         優異的線性相關性。

4.         銠元素陽級本身就提高了2倍檢測鎂元素的結果。

5.         超大型SDD硅漂移探測器的使用將從鎂到硫元素的檢測下限/精度提高了四倍。

6.         超大型SDD硅漂移探測器，提高了五倍銀元素的檢測下限，兩倍鎘元素的檢測下限

7.         采用了*重新設計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。

8.         結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應用信號提高了~40%.

9.         新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應最高的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產生好的分析效果。

10.     超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有專用的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩定，從而故障率極低。

11.     SDD X射線探測器具有驚人的計數率,高達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高10倍，進一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質元素性能。

12.     內置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應, 可根據不同的壓力調整，從而是檢測值更加準確，儀器預設海平面，客戶在不同的海拔高度測試，無需再次校準。

13.     內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作。

14.     真空系統（選配）：真空系統可提高Mg;Al;Si;P;S等輕質元素的檢測下限。

合金分析儀技術規格

能量色散X熒光光譜儀檢測